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Kontrolle optisch / AOI

Hier wird die strukturierte Leiterplatte auf Abweichungen zum Layout untersucht.
Das AOI scannt dabei die Oberfläche und erkennt kleinste Abweichungen der Struktur zu den vorgegebenen CAD Daten.
So sind wir in der Lage die Breite der Leiterbahnen zu überwachen, Kurzschlüsse und Unterbrechungen zu finden, sowie Reduzierungen oder Ätzdurchschläge festzustellen.

Wir können somit Fehler in Leiterplatten, die im E-Test nicht erkannt werden können, frühzeitig eliminieren.

Neben den Außenlagen werden auch alle Innenlagen von Multilayern vor dem Verpressen dieser Kontrolle unterworfen.

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